微位移测量光学尺

微位移测量光学尺

现价:¥0.00

添加时间:2020-09-15 10:47:00










微位移测量光学尺

微位移产品说明:

    1、微位移测量传感器是利用光栅测量原理,将光栅的光信号转换成对应的电信号,供二次仪表或计算机显示和计算处理。

    2、本具有测量范围大,精度高,功耗低使用方便的特点。

    3、主要应用于厚度测量、缝隙测量、微位移测量、弹跳速度测量等,在实验仪器、工业控制等领域广泛应用。

    4、后部处理设备可采用数显表显示数据或则用光栅脉冲采集卡与计算机通讯,同样在经过处理后可以与PLC直接通讯。

    5、输出信号分正弦信号和5V方波信号,根据使用要求配置。

 

 微位移测量光学尺技术指标:

  测量范围:0-30mm/0-50mm

  分辨率:0.001mm、0.005mm

  测力:≤2.5N

  最大移动速度:1.5M/s

  工作温度:10℃-40℃

  存储温度:0℃-55℃

 微位移测量光学尺输出引脚说明

 计算机COM口 NC 2 3 5 线   色 黄色 兰色 橙色 白色 传感器输出信号 +5V±10%(外接) RXD TXD GND

上一个:广东深圳珠海微位移传感器的使用方法